CUBE 金属夹杂物扫描电镜
EM科特（EmCrafts）Cube系列金属夹杂物扫描电镜，可根据不同的检测需求，灵活定制自动分析流程，保证高通量快速运行。同时可将您所需要的样品信息，如颗粒尺寸、形状、长宽比等同时显示在界面。即使是初学者也可以方便快速地获得整个样品中几千甚至几万颗粒的信息。
蔡司Sigma系列场发射扫描电子显微镜（SEM）
蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高品质的成像和分析能力，将场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。可广泛应用于材料科学、生命科学、工业应用等领域。
热场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F是日本电子于2011年7月推出的新一代热场发射扫描电子显微镜，具有超高分辨率和快速高精度分析的特点，束流强度大，稳定性高，特别是在低加速电压下能够获得世界高的图象分辨率。
PicoFemto（皮飞） 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
蔡司冷冻关联显微镜工作流程
蔡司冷冻关联工作流程联接宽场显微镜、激光共聚焦显微镜和双束电镜，以实现体积成像和TEM薄片的高效制备。该解决方案提供了针对冷冻关联工作流程需求而优化的硬件和软件，从荧光大分子的定位到高衬度体积成像和用于冷冻电子断层成像的薄片减薄。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。
Anyty(艾尼提)便携式显微镜3R-MSA580
触摸屏，内置直线，角度，面积，十字线测量功能，所有测量全部通过触摸选点方式完成，每个端点都可支持微移，从而达到准确的测量效果可以保存测量数据图与原始拍摄图像。
蔡司多束扫描电子显微镜
蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM505是专为半导体、生物等样品的大面积高分辨率成像开发的极高通量SEM，可以实现大尺寸样品的纳米级分辨率成像，同时具有高效的成像效率和数据采集速度，自动获取大面积高分辨率图像也更加方便快捷。