产品详细资料 更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业先进的极速探测器技

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

商家询价 克勒格瓦尼（上海）分析仪器有限公司

微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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测量元素：从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围：1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达 1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：165±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA

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EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

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新款快速手持式X射线荧光分析仪 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出佳性能，同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下

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X-MET7500手持式XRF分析仪

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