四点弯-半导体薄膜结合力检测系统
四点弯-半导体薄膜结合力检测系统V8.2是独创的四点弯测试系统,来自于史坦福大学,半导体专业生产线应用,经历超过8年的开发和优化来提高测试能力、稳定性和产量。系统和软件的控制通过大量的修正来提高测试能力、控制和数据分析。可以满足微电子设备、工具和材料公司的
Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。
BET比表面积及孔径测试仪F-Sorb 3400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径(孔隙度)分析测试(测定)仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品,可完全实现测试过程的自动化和智能化,显著提高测试效率.
活塞表面扫描仪
德国BMT PistonScan活塞表面扫描仪用于活塞及圆柱形物体表面的自动可视化检测。可在数秒内高质量扫描整个表面,并且可评估各种缺陷,如抛光、划伤、沉孔、麻点、碳化、咬粘、腐蚀斑点和涂层缺陷。
LZ-990型日本KETT膜厚计维修校正销售
日本KETT膜厚仪LZ-990型是一款小巧、精度高、功能全面的便携式两用涂镀层膜厚仪,适用于:网版油墨印刷层、硅胶油墨涂层、金属热镀锌层,金属电泳层等膜厚测试。本司还具备维修、校正、销售服务。
持粘性测试仪,持粘性测试机,持粘性测试
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